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當前位置：島津企業管理（中國）有限公司>>表面分析>>掃描探針顯微鏡>> EPMA-8050G電子探針顯微分析儀
“The Grand EPMA" 誕生
搭載高質量場發射電子光學系統
將島津EPMA分析性能發揮到*致
從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有*空間分辨率的端場發射電子光學系統。結合島津傳統的高性能X射線譜儀，將分析性能發揮至*致。
當之無愧的“The Grand EPMA" ，高水準的EPMA誕生！
更高分辨率面分析
對碳膜上Sn球放大3萬倍進行面分析。即使是SE圖像（左側）上直徑只有50nm左右的Sn顆粒，在X射線圖像（右側）上也是清晰可見。
優異的技術實現
■ *的空間分辨率
EPMA可達到的更高級別的二次電子圖像分辨率3nm（加速電壓30kV）分析條件下No.1的二次電子分辨率。
（加速電壓10kV時20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）
■ 二次電子圖像高分辨率高達3nm
碳噴鍍金顆粒的觀察實例。實現更高分辨率
3nm（@30kV）。相對較高的束流也可將電子束壓
細聚焦，更加容易的獲得高分辨率的SEM圖像。
■ 大束流更高靈敏度分析
實現3.0μA（加速電壓30kV）的超大束流。
全束流范圍無需更換物鏡光闌。
■ 至多可同時搭載5通道高性能4英寸X射線譜儀
無人可及的52.5°X射線取出角。
4英寸羅蘭圓半徑兼顧高靈敏度與高分辨率。
至多可同時搭載5通道相同規格的X射線譜儀。
■ 全部分析操作簡單易懂
全部操作僅靠一個鼠標就可進行的先進可操作性。
追求「易懂」的人性化用戶界面。
搭載導航模式，自動指引直至生成報告。
更高靈敏度面分析
使用1μA束流對不銹鋼進行5000倍的面分析。精細地捕捉到了Cr含量輕微不同形成的不同的相（左側），同時也成功地將含量不足0.1%的Mn分布呈現在我們眼前（右側）。
實現微區更高靈敏度分析的先進技術
1 高亮度肖特基發射體
場發射電子槍采用的肖特基發射體比一般傳統SEM使用的發射體針尖直徑更大，輸出更高。即可以保持其高亮度，還可提供高靈敏度分析不可少的穩定大電流。
2 EPMA專用電子光學系統
電子光學系統，聚光透鏡盡可能的接近電子槍一側，交叉點不是靠聚光透鏡形成，而是由安裝在與物鏡光闌相同位置上，具有獨立構成與控制方式的可變光闌透鏡來形成交叉點的。簡單的透鏡結構，既能獲得大束流，同時全部電流條件下設定更合適的打開角度，將電子束壓縮到更細。當然是不需要更換物鏡光闌的。
3 更高真空排氣系統
電子槍室、中間室、分析腔體之間分別安裝有篩孔（orifice）間隔方式的2級差動排氣系統。中間室與分析腔體間的氣流孔做到最小，以控制流入中間室的氣體，使電子槍室始終保持著超高真空，確保發射體穩定工作。
4 高靈敏度X射線譜儀
至多可同時搭載5通道兼顧高靈敏度與高分辨率的4英寸X射線譜儀。52.5°的X射線取出角在提高了X射線信號的空間分辨率的同時，又可減小樣品對X射線的吸收，實現高靈敏度的分析。
